Microscopie électronique à Balayage environnemental
|
|
MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE ENVIRONNEMENTAL
MEBE FEI Q250 ET SPECTROMETRIE EDX THERMOFISHER
Pour tous ceux qui souhaitent réaliser des observations MEB ou des analyses EDX, veuillez remplir le formulaire
Caractéristiques Techniques
- Filament de tungstène
- Tension 200 V à 30 Kv
- Platine pseudo-eucentrique 5 axes 50 mm x 50 mm (tilt jusqu’à 70°)
- Modes High vacuum (10-4 Pa), Low vacuum (<130 Pa), MEBE (<2600 Pa)
- Caméra infrarouge intégrée/ NavCam
- Détecteur d’électrons secondaires Everhart-Thornley (rés. 3 nm @ 30 kV & 10 nm @ 3 kV)
- Détecteur d’électrons rétrodiffusés à semi-conducteur (rés. 5 nm @ 30 kV)
- Détecteurs d’électrons secondaires gazeux pour mode environnemental
- EDS SDD 10 mm² : analyses qualitatives et quantitatives, cartographies) / Détection des éléments à partir du Bore, résolution < 130 eV
|